線型回帰のプロット
作図は、正規性、線型性、分散の等質性に対する仮定の妥当性を確認する場合に役立ちます。 また、外れ値、異常な観測値、影響の大きなケースを検出する場合も、作図が役立ちます。 予測値、残差、その他の診断情報を新しい変数として保存すると、データ・エディターで独立変数を使用して作図する際に、その新しい変数を使用することができます。 次のプロットを選択できます。
散布図。 従属変数、標準化予測値、標準化残差、削除された残差、調整済み予測値、スチューデント化された残差、スチューデント化された削除済み残差のうち、任意の 2 つを作図することができます。 線型性と等分散性を確認するには、標準化予測値に対して標準化残差を作図します。
ソース変数リスト: 従属変数 (DEPENDNT)、 予測変数および残差変数 (標準化予測値 (*ZPRED)、標準化残差 (*ZRESID)、 削除済み残差 (*DRESID)、調整済み予測値 (*ADJPRED)、スチューデント化された残差 (*SRESID)、 スチューデント化された削除済み残差 (*SDRESID)) をリストします。
すべての偏残差プロットを作成します。 独立変数と従属変数の両方が残りの独立変数上で個別に回帰されている場合に、各独立変数の残差と従属変数の残差の散布図を表示します。 偏残差プロットを作成するには、2 つ以上の独立変数が式に含まれている必要があります。
標準化残差のプロット : 標準化残差のヒストグラムと正規確率プロットを作成して、標準化残差の分布を正規分布と比較することができます。
いずれかの作図が要求されると、標準化予測値と標準化残差 (*ZPRED および *ZRESID) の要約統計量が表示されます。
線型回帰でのプロットを作成するには
この機能には Statistics Base オプションが必要です。
- メニューから次の項目を選択します。
- 「線型回帰」ダイアログ・ボックスで、「作図」をクリックします。
- 散布図の場合、縦 (y) 軸と横 (x) 軸について変数を 1 つずつ選択します。 さらに散布図を要求するには、「次」をクリックします。